日本J-RAS 500V離子遷移實驗裝置用途

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000  小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF  試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）

在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

適用規(guī)格 ： JPCA- - ET01- - 2001

500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスター
絶縁抵抗測定器　ECM-500シリーズ

製品の特?

1V?500Vのワイド印加電圧&CH個別電圧出力で様々なサンプルの試験が可能

CH個別計測回路搭載により50msec/CHの高速スキャン処理

応答速度100nsec以下の瞬時リーク電流検出回路でリークタッチ現(xiàn)象を確実にキャッチ

最大100CHの筐體は小型軽量で場所を選ばず設(shè)置でき移設(shè)も容易

チャンバー扉開の接點利用で緊急停止または一時停止を行える安全機能

はんだ付け作業(yè)の負(fù)擔(dān)を減らしミスを防ぐCH別カラーケーブルを採用

省電力の専用設(shè)計で130VAの省エネを?qū)g現(xiàn)(100CH実裝)

シンプルで使いやすい専用ソフトウェア