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簡(jiǎn)要描述：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。
更新時(shí)間：2024-05-14訪 問(wèn) 量：1011廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家產(chǎn)品型號(hào)：HVUα_2000V| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
適用規(guī)格 ： JPCA- - ET01- - 2001
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置
