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熱導(dǎo)系統(tǒng)測(cè)試儀是一套自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)，用來(lái)測(cè)量那些電子封裝材料和多種柔性的，堅(jiān)硬的，半固狀的和粘稠狀的材料熱阻抗和熱導(dǎo)率需要測(cè)量的樣品被夾在兩個(gè)平行執(zhí)行熱傳導(dǎo)的平面中間，一端是被加熱的，另一端是被冷卻的，這樣可以迫使可測(cè)量的熱量通過(guò)樣品

熱阻測(cè)試儀主要用于測(cè)試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱阻測(cè)試及分析。

Phascl2 熱阻測(cè)試儀主要用于測(cè)試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱阻測(cè)試及分析。

Phase12 熱阻測(cè)試儀產(chǎn)自美國(guó) Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標(biāo)和 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn). Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測(cè)試的設(shè)計(jì)，制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國(guó)麻省理工的博士，并且是提出焊點(diǎn)可靠性,熱阻分析和熱導(dǎo)率理論的專家. 發(fā)表了很多關(guān)于熱阻測(cè)試于分析，熱導(dǎo)率及焊點(diǎn)可靠......