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簡要描述：2000V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ），經(jīng)過長時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
更新時(shí)間：2024-05-14訪 問 量：2317廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家產(chǎn)品型號：| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
100n秒以下の高速イベント計(jì)測機(jī)能で部分放電も検出(抵抗値データと同時(shí)計(jì)測も可能)
CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別制御で全CHに異なる印加電圧設(shè)定が可能
機(jī)械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
短絡(luò)検出回路のCH個(gè)別搭載で瞬間的なサンプル短絡(luò)にも追従
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計(jì)測を?qū)g現(xiàn)(計(jì)測側(cè))
専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
5チャンネル?yún)g位で需要に応じてシステム構(gòu)成可能
?電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評価。
メイン畫面
テキストデータ畫面
グラフ畫面
ログ表示
対応OS：WindowsXp、7、8、10
