簡要描述:3000V離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。適用規(guī)格 : JPCA- - ET01-
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
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加工定制 | 是 |
100n秒以下の高速イベント計測機(jī)能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)
CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設(shè)定が可能
機(jī)械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
短絡(luò)検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡(luò)にも追従
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を?qū)g現(xiàn)(計測側(cè))
専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
5チャンネル?yún)g位で需要に応じてシステム構(gòu)成可能
?電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評価。
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対応OS:WindowsXp、7、8、10